Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: https://hdl.handle.net/10442/12689
Export to:   BibTeX  | EndNote  | RIS
Εξειδίκευση τύπου : Ανακοίνωση σε συνέδριο
Τίτλος: Laser plasma X-ray contact microscopy of living specimens
Δημιουργός/Συγγραφέας: [EL] Κεφαλάς, Αλκιβιάδης Κωνσταντίνος[EN] Cefalas, Alciviadis Constantinossemantics logo
Argitis, P
[EL] Κόλλια, Ζωή[EN] Kollia, Zoesemantics logo
[EL] Σαραντοπούλου, Ευαγγελία[EN] Sarantopoulou, Evangeliasemantics logo
Ford, TW
Stead, AD
Marranca, A
Danson, CN
Knott, J
Neely, D
Επιμελητής έκδοσης: Atansov, PA
Stoyanov, DV
Εκδότης: South P I East - International Society for Optical Engineering
Τόπος έκδοσης: BELLINGHAM
Ημερομηνία: 1999
Γλώσσα: Αγγλικά
ISBN: 0-8194-3034-X
ISSN: 0277-786X
DOI: 10.1117/12.347658
Περίληψη: We report on the use of an epoxy novolac chemically amplified photoresist to produce X-ray images of living biological specimens in the water window using laser plasma generated soft X-rays (2.4-4.4nm). The photoresist response was at least one order of magnitude "faster" than the standard PMMA (polymethyl methacrylate) previously used in soft X-ray contact microscopy (SXCM). After chemical development of the exposed resists, atomic force microscopy (AFM) of the relief images obtained of biological specimens clearly showed the flagella of the motile green alga, Chlamydomonas, suggesting a lateral resolution better than 300nm, whilst the AFM was capable of discriminating height features of 20nm in depth profiles.
Όνομα εκδήλωσης: 10th International School on Quantum Electronics - Laser Physics and Applications
Ημ/νία έναρξης εκδήλωσης : 1998-09-21
Ημ/νία λήξης εκδήλωσης : 1998-09-25
Τόπος εκδήλωσης: VARNA, BULGARIA
Τίτλος πηγής δημοσίευσης: Tenth International School on Quantum Electronics: Laser Physics and Applications
Τόμος/Κεφάλαιο: 3571
Σελίδες: 388-391
Θεματική Κατηγορία: [EL] Οπτική. Φώς[EN] Optics. Lightsemantics logo
Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed): Ναι
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων: © SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
Εμφανίζεται στις συλλογές:Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο:
Το πλήρες κείμενο αυτού του τεκμηρίου δεν διατίθεται προς το παρόν από τον ΗΛΙΟ.