Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: https://hdl.handle.net/10442/12693
Export to:   BibTeX  | EndNote  | RIS
Εξειδίκευση τύπου : Ανακοίνωση σε συνέδριο
Τίτλος: Single pulse, high resolution X-ray contact microscopy with an advanced epoxy novolac resist
Δημιουργός/Συγγραφέας: Argitis, P
[EL] Κεφαλάς, Αλκιβιάδης Κωνσταντίνος[EN] Cefalas, Alciviadis Constantinossemantics logo
[EL] Κόλλια, Ζωή[EN] Kollia, Zoesemantics logo
[EL] Σαραντοπούλου, Ευαγγελία[EN] Sarantopoulou, Evangeliasemantics logo
Ford, T
Stead, T
Marranca, A
Danson, CN
Knott, J
Neely, D
Επιμελητής έκδοσης: Carabelas, A
DiLazzaro, P
Torre, A
Baldacchini, G
Εκδότης: South P I East - International Society for Optical Engineering
Τόπος έκδοσης: BELLINGHAM
Ημερομηνία: 1998
Γλώσσα: Αγγλικά
ISBN: 0-8194-2878-7
ISSN: 0277-786X
DOI: 10.1117/12.316626
Περίληψη: We report on the use of an epoxy novolac chemically amplified photoresist, to get x-ray images of living biological species in the water window of soft X-rays. This photoresist response was at least two orders of magnitude "faster" than the standard used PMMA in contact X-ray microscopy. Atomic Force Microscopy of the resist, relief images obtained with biological specimen masking, suggests a resolution better than 300 nm in lateral dimensions - the size of the cell flagellas - and 20 nm in depth profiles.
Όνομα εκδήλωσης: 2nd Greek-Italian International Conference on New Laser Technologies and Applications
Ημ/νία έναρξης εκδήλωσης : 1997-06-01
Ημ/νία λήξης εκδήλωσης : 1997-06-04
Τόπος εκδήλωσης: OLYMPIA, GREECE
Τίτλος πηγής δημοσίευσης: Second Gr-i International Conference on New Laser Technologies and Applications
Τόμος/Κεφάλαιο: 3423
Σελίδες: 411-415
Θεματική Κατηγορία: [EL] Οπτική. Φώς[EN] Optics. Lightsemantics logo
Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed): Ναι
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων: © SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
Εμφανίζεται στις συλλογές:Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο:
Το πλήρες κείμενο αυτού του τεκμηρίου δεν διατίθεται προς το παρόν από τον ΗΛΙΟ.