Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: https://hdl.handle.net/10442/7480
Export to:   BibTeX  | EndNote  | RIS
Εξειδίκευση τύπου : Κεφάλαιο σε πρακτικά συνεδρίου
Τίτλος: Δομικός χαρακτηρισμός υάλων xPbO-(1-x)SiO2 με φασματοσκοπία υπερύθρου και Raman
Δημιουργός/Συγγραφέας: Γιαννόπουλος, Ι.Δ.
[EL] Βαρσάμης, Χρήστος-Πλάτων Ε.[EN] Varsamis, Christos-Platon E.semantics logo
[EL] Καμίτσος, Ευστράτιος Ι.[EN] Kamitsos, Efstratios I.semantics logo
Ημερομηνία: 2004
Γλώσσα: Ελληνικά
Όνομα εκδήλωσης: XIX Πανελλήνιο Συνέδριο Φυσικής Στέρεας Κατάστασης και Επιστήμης Υλικών
Ημ/νία έναρξης εκδήλωσης : 2004-09-21
Ημ/νία λήξης εκδήλωσης : 2004-09-24
Τόπος εκδήλωσης: Θεσσαλονίκη
Τίτλος πηγής δημοσίευσης: XIX Πανελλήνιο Συνέδριο Φυσικής Στέρεας Κατάστασης και Επιστήμης Υλικών, Θεσσαλονίκη 21-24 Σεπτεμβρίου, 2004
Σελίδες: 593-596
Θεματική Κατηγορία: [EL] Χημεία (Γενικά)[EN] Chemistry (General)semantics logo
[EL] Επιστήμη (Γενικά)[EN] Science (General)semantics logo
[EL] Τεχνολογία (Γενικά)[EN] Technology (General)semantics logo
Λέξεις-Κλειδιά: Γυαλί
Φασματοσκοπία με λειζερ
Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed): Ναι
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων: © Οι Συγγραφείς/Δημιουργοί
Σημειώσεις: Κατάσταση τεκμηρίου: Δημοσιευμένο
Document status: Published
Εμφανίζεται στις συλλογές:Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο:
Αρχείο Περιγραφή ΣελίδεςΜέγεθοςΜορφότυποςΈκδοσηΆδεια
ITHFX_CP_04_01.pdf417.94 kBAdobe PDFΔημοσιευμένη/του ΕκδότηincThumbnail
Δείτε/ανοίξτε