Εξειδίκευση τύπου :	Άρθρο σε επιστημονικό περιοδικό
Τίτλος:	Effects of post-deposition surface treatment on the optical, structural and hydrogen sensing properties of TiO2 thin films
Δημιουργός/Συγγραφέας:	Fasaki, I. Hotovy, I. Rehakova, A. Hotovy, J. Rehacek, V. [EL] Κομπίτσας, Μιχάλης[EN] Kompitsas, Michael G. Roubani-Kalantzopoulou, F.
Εκδότης:	Elsevier S.A.
Τόπος έκδοσης:	LAUSANNE
Ημερομηνία:	2009-12-15
Γλώσσα:	Αγγλικά
ISSN:	0040-6090
DOI:	10.1016/j.tsf.2009.08.052
Περίληψη:	TiO2 thin films were prepared by DC reactive magnetron sputtering in a mixture of oxygen and argon on glass and oxidized silicon substrates. The effect of post-deposition annealing (300 degrees C. 500 degrees C and 700 degrees C for 8 h in air) on the structural and morphological properties of TiO2 thin films is presented. In addition, the effect of Pt surface modification (1, 3 and 5 nm) on hydrogen sensing was studied. XRD patterns have shown that in the range of annealing temperatures from 300 degrees C to 500 degrees C crystallization starts and the thin film structure changes from amorphous to polycrystalline (anatase phase). In the case of samples on glass substrate, optical transmittance spectra were recorded. TiO2 thin films were tested as sensors of hydrogen at concentrations 10,000-1000 ppm and operating temperatures within the 180-200 degrees C range. The samples with 1 nm and in particular with 3 nm of Pt on the surface responded to hydrogen fast and with high sensitivity.
Όνομα εκδήλωσης:	2nd International Symposium on Transparent Conducting Oxides
Ημ/νία έναρξης εκδήλωσης :	2008-10-22
Ημ/νία λήξης εκδήλωσης :	2008-10-26
Τόπος εκδήλωσης:	Crete, GREECE
Τίτλος πηγής δημοσίευσης:	Thin Solid Films
Τόμος/Κεφάλαιο:	518
Τεύχος:	4
Σελίδες:	1103-1108
Θεματική Κατηγορία:	[EL] Επιστήμη (Γενικά)[EN] Science (General) [EL] Τεχνολογία (Γενικά)[EN] Technology (General) [EL] Φυσική[EN] Physics
Λέξεις-Κλειδιά:	TiO2 thin films Metal modification Hydrogen sensing Materials Science, Multidisciplinary Materials Science, Coatings & Films Physics, Applied Physics, Condensed Matter
Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed):	Ναι
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων:	© 2009 Elsevier B.V. All rights reserved.
Ηλεκτρονική διεύθυνση περιοδικού (link) :	http://www.elsevier.com/locate/tsf
Σημειώσεις:	Special Issue SI
Εμφανίζεται στις συλλογές:	Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο