Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο:
https://hdl.handle.net/10442/12627
| Εξειδίκευση τύπου : | Άρθρο σε επιστημονικό περιοδικό |
| Τίτλος: | Annealing effects on the structural, electrical and H-2 sensing properties of transparent ZnO thin films, grown by pulsed laser deposition |
| Δημιουργός/Συγγραφέας: | Stamataki, M.
Fasaki, I.
Tsonos, G.
Tsamakis, D.
[EL] Κομπίτσας, Μιχάλης[EN] Kompitsas, Michael G. |
| Εκδότης: | Elsevier S.A. |
| Τόπος έκδοσης: | LAUSANNE |
| Ημερομηνία: | 2009-12-15 |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| ISSN: | 0040-6090 |
| DOI: | 10.1016/j.tsf.2009.02.156 |
| Περίληψη: | Transparent zinc oxide thin films were grown by reactive pulsed laser deposition on glass substrates. The substrates were kept at 200 degrees C constant temperature. Post-deposition heat treatment, applied to further promote crystallization and overcome any oxygen deficiency, yielded transparent thin films. Structural investigations carried out by atomic force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD), have shown a strong influence of deposition technique parameters and post-annealing on the crystallinity of the zinc oxide films. The gas sensing characteristics of these films were investigated towards different hydrogen concentrations (5000-30,000 ppm) at a selected operating temperature within the 150-230 degrees C range. |
| Όνομα εκδήλωσης: | 2nd International Symposium on Transparent Conducting Oxides |
| Ημ/νία έναρξης εκδήλωσης : | 2008-10-22 |
| Ημ/νία λήξης εκδήλωσης : | 2008-10-26 |
| Τόπος εκδήλωσης: | Crete, GREECE |
| Τίτλος πηγής δημοσίευσης: | Thin Solid Films |
| Τόμος/Κεφάλαιο: | 518 |
| Τεύχος: | 4 |
| Σελίδες: | 1326-1331 |
| Θεματική Κατηγορία: | [EL] Επιστήμη (Γενικά)[EN] Science (General)
[EL] Τεχνολογία (Γενικά)[EN] Technology (General)
[EL] Φυσική[EN] Physics |
| Λέξεις-Κλειδιά: | Zinc oxide (ZnO)
Pulsed laser deposition (PLD)
Heat treatment
Hall effect
Atomic force microscopy (AFM)
Structural properties
Sensors
Hydrogen
Materials Science, Multidisciplinary
Materials Science, Coatings & Films
Physics, Applied
Physics, Condensed Matter |
| Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed): | Ναι |
| Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων: | © 2009 Elsevier B.V. All rights reserved. |
| Ηλεκτρονική διεύθυνση περιοδικού (link) : | http://www.elsevier.com/locate/tsf |
| Σημειώσεις: | Special Issue SI |
| Εμφανίζεται στις συλλογές: | Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο
|
