Skip navigation
Αρχική
Πλοήγηση
Συλλογές
Πλοήγηση με:
Δημιουργός/ Συντελεστής
Ημερομηνία
Τίτλος
Λέξη-κλειδί
Θεματική κατηγορία
Εξειδίκευση τύπου
Σχετικά
Συχνές ερωτήσεις
Επικοινωνία
Γλώσσα
English
Ελληνικά
Εγγραφείτε σε υπηρεσίες:
Ο Ήλιος μου
Ενημέρωση μέσω
email
Επεξεργασία προφίλ
Ήλιος - Αποθετήριο ΕΙΕ
Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ)
Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο
Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο:
https://hdl.handle.net/10442/12641
APA - American Psychological Association
Harvard
IEEE
Export to:
BibTeX
|
EndNote
|
RIS
Εξειδίκευση τύπου :
Περίληψη σε συνέδριο
Τίτλος:
Determination of oxygen content in pulsed laser deposited InN thin films with analytical electron microscopy
Δημιουργός/Συγγραφέας:
Drazic, Goran
[EL]
Σαραντοπούλου, Ευαγγελία
[EN]
Sarantopoulou, Evangelia
[EL]
Κόλλια, Ζωή
[EN]
Kollia, Zoe
[EL]
Κεφαλάς, Αλκιβιάδης Κωνσταντίνος
[EN]
Cefalas, Alciviadis Constantinos
Kobe, Spomenka
Εκδότης:
Cambridge University Press
Τόπος έκδοσης:
New York
Ημερομηνία:
2009-07
Γλώσσα:
Αγγλικά
ISSN:
1431-9276
DOI:
10.1017/S143192760909686X
Τίτλος πηγής δημοσίευσης:
Microscopy and Microanalysis
Τόμος/Κεφάλαιο:
15
Σελίδες:
1316-1317
Θεματική Κατηγορία:
[EL]
Επιστήμη (Γενικά)
[EN]
Science (General)
[EL]
Τεχνολογία (Γενικά)
[EN]
Technology (General)
Λέξεις-Κλειδιά:
Materials Science, Multidisciplinary
Microscopy
Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed):
Ναι
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων:
© CAMBRIDGE UNIV PRESS
Ηλεκτρονική διεύθυνση περιοδικού (link) :
http://journals.cambridge.org/jid_MAM
Σημειώσεις:
Meeting Abstract
Supplement 2
Εμφανίζεται στις συλλογές:
Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο
Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο:
Αρχείο
Περιγραφή
Σελίδες
Μέγεθος
Μορφότυπος
Έκδοση
Άδεια
12641.pdf
Restricted Access
359.52 kB
Adobe PDF
Δημοσιευμένη/του Εκδότη
Δείτε/ανοίξτε