Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο:
https://hdl.handle.net/10442/12837
| Εξειδίκευση τύπου : | Άρθρο σε επιστημονικό περιοδικό |
| Τίτλος: | ZnO thin films prepared by pulsed laser deposition |
| Δημιουργός/Συγγραφέας: | Tsoutsouva, M. G.
Panagopoulos, C. N.
Papadimitriou, D.
Fasaki, I.
[EL] Κομπίτσας, Μιχάλης[EN] Kompitsas, Michael G. |
| Εκδότης: | Elsevier S.A. |
| Τόπος έκδοσης: | AMSTERDAM |
| Ημερομηνία: | 2011-04-15 |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| ISSN: | 0921-5107 |
| DOI: | 10.1016/j.mseb.2010.03.059 |
| Περίληψη: | Zinc oxide (ZnO) thin films were deposited on soda lime glass substrates by pulsed laser deposition (PLD) in an oxygen-reactive atmosphere. The structural, optical, and electrical properties of the as-prepared thin films were studied in dependence of substrate temperature and oxygen pressure. High quality poly-crystalline ZnO films with hexagonal wurtzite structure were deposited at substrate temperatures of 100 and 300 degrees C. The RMS roughness of the deposited oxide films was found to be in the range 2-9 nm and was only slightly dependent on substrate temperature and oxygen pressure. Electrical measurements indicated a decrease of film resistivity with the increase of substrate temperature and the decrease of oxygen pressure. The ZnO films exhibited high transmittance of 90% and their energy band gap and thickness were in the range 3.26-3.30 eV and 256-627 nm, respectively. |
| Τίτλος πηγής δημοσίευσης: | Materials Science and Engineering B (formerly Part of Materials Science and Engineering) |
| Τόμος/Κεφάλαιο: | 176 |
| Τεύχος: | 6 |
| Σελίδες: | 480-483 |
| Θεματική Κατηγορία: | [EL] Επιστήμη (Γενικά)[EN] Science (General)
[EL] Τεχνολογία (Γενικά)[EN] Technology (General)
[EL] Φυσική[EN] Physics |
| Λέξεις-Κλειδιά: | Pulsed laser deposition
Zinc oxide thin films
Structural
Optical
Electrical properties
Materials Science, Multidisciplinary
Physics, Condensed Matter |
| Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed): | Ναι |
| Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων: | © 2010 Elsevier B.V. All rights reserved. |
| Ηλεκτρονική διεύθυνση περιοδικού (link) : | http://www.elsevier.com/locate/mseb |
| Σημειώσεις: | Special Issue SI |
| Εμφανίζεται στις συλλογές: | Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο
|
