Direct measurement of the dispersion of the electrogyration coefficient of photorefractive Bi12GeO20 crystals

Deliolanis, N. C.; Kourmoulis, I. M.; Asimellis, G.; Apostolidis, A. G.; Vanidhis, E. D.; Vainos, Nikolaos A.

Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: https://hdl.handle.net/10442/6767

Export to: BibTeX | EndNote | RIS

Εξειδίκευση τύπου :	Άρθρο σε επιστημονικό περιοδικό
Τίτλος:	Direct measurement of the dispersion of the electrogyration coefficient of photorefractive Bi12GeO20 crystals
Δημιουργός/Συγγραφέας:	Deliolanis, N. C. Kourmoulis, I. M. Asimellis, G. Apostolidis, A. G. Vanidhis, E. D. [EL] Βάϊνος, Νικόλαος A.[EN] Vainos, Nikolaos A.
Εκδότης:	American Institute of Physics
Ημερομηνία:	2005
Γλώσσα:	Αγγλικά
ISSN:	0021-8979
DOI:	10.1063/1.1828585
Τίτλος πηγής δημοσίευσης:	Journal of Applied Physics
Τόμος/Κεφάλαιο:	97
Τεύχος:	2
Σελίδες:	4
Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed):	Ναι
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων:	Copyright © 2005 American Institute of Physics
Ηλεκτρονική διεύθυνση περιοδικού (link) :	http://jap.aip.org/jap/staff.jsp
Σημειώσεις:	Ερευνητικη ομάδα ΕΙΕ: Φωτονική για Νανοεφαρμογές Ερευνητικη ομάδα ΕΙΕ: Photonics for Nanoapplications
Εμφανίζεται στις συλλογές:	Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο:

Αρχείο	Περιγραφή	Σελίδες	Μέγεθος	Μορφότυπος	Έκδοση	Άδεια
ITHFX_AIP_7.pdf			100.54 kB	Adobe PDF	Δημοσιευμένη/του Εκδότη		Δείτε/ανοίξτε