Correlation between dielectric constant and chemical structure of sodium silicate glasses

Hsieh, C. H.; Jain, H.; Καμίτσος, Ευστράτιος Ι.

Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: https://hdl.handle.net/10442/7221

Export to: BibTeX | EndNote | RIS

Εξειδίκευση τύπου :	Άρθρο σε επιστημονικό περιοδικό
Τίτλος:	Correlation between dielectric constant and chemical structure of sodium silicate glasses
Δημιουργός/Συγγραφέας:	Hsieh, C. H. Jain, H. [EL] Καμίτσος, Ευστράτιος Ι.[EN] Kamitsos, Efstratios I.
Εκδότης:	American Institute of Physics
Ημερομηνία:	1996
Γλώσσα:	Αγγλικά
ISSN:	0021-8979
DOI:	10.1063/1.363824
Τίτλος πηγής δημοσίευσης:	Journal of Applied Physics
Τόμος/Κεφάλαιο:	80
Τεύχος:	3
Σελίδες:	1704-1712
Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed):	Ναι
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων:	Copyright © 1996 American Institute of Physics
Ηλεκτρονική διεύθυνση περιοδικού (link) :	http://jap.aip.org/jap/staff.jsp
Σημειώσεις:	Ερευνητικη ομάδα ΕΙΕ: Σύνθεση και Φυσικοχημεία Υλικών Ερευνητικη ομάδα ΕΙΕ: Materials Synthesis and Physical Chemistry
Εμφανίζεται στις συλλογές:	Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο:

Αρχείο	Περιγραφή	Σελίδες	Μέγεθος	Μορφότυπος	Έκδοση	Άδεια
ITHFX_AIP_43.pdf			180.94 kB	Adobe PDF	Δημοσιευμένη/του Εκδότη		Δείτε/ανοίξτε