Εξειδίκευση τύπου :	Κεφάλαιο σε πρακτικά συνεδρίου
Τίτλος:	Δομικός χαρακτηρισμός υάλων xPbO-(1-x)SiO2 με φασματοσκοπία υπερύθρου και Raman
Δημιουργός/Συγγραφέας:	Γιαννόπουλος, Ι.Δ. [EL] Βαρσάμης, Χρήστος-Πλάτων Ε.[EN] Varsamis, Christos-Platon E. [EL] Καμίτσος, Ευστράτιος Ι.[EN] Kamitsos, Efstratios I.
Ημερομηνία:	2004
Γλώσσα:	Ελληνικά
Όνομα εκδήλωσης:	XIX Πανελλήνιο Συνέδριο Φυσικής Στέρεας Κατάστασης και Επιστήμης Υλικών
Ημ/νία έναρξης εκδήλωσης :	2004-09-21
Ημ/νία λήξης εκδήλωσης :	2004-09-24
Τόπος εκδήλωσης:	Θεσσαλονίκη
Τίτλος πηγής δημοσίευσης:	XIX Πανελλήνιο Συνέδριο Φυσικής Στέρεας Κατάστασης και Επιστήμης Υλικών, Θεσσαλονίκη 21-24 Σεπτεμβρίου, 2004
Σελίδες:	593-596
Θεματική Κατηγορία:	[EL] Χημεία (Γενικά)[EN] Chemistry (General) [EL] Επιστήμη (Γενικά)[EN] Science (General) [EL] Τεχνολογία (Γενικά)[EN] Technology (General)
Λέξεις-Κλειδιά:	Γυαλί Φασματοσκοπία με λειζερ
Αξιολόγηση από ομότιμους (peer reviewed):	Ναι
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων:	© Οι Συγγραφείς/Δημιουργοί
Σημειώσεις:	Κατάσταση τεκμηρίου: Δημοσιευμένο Document status: Published
Εμφανίζεται στις συλλογές:	Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο