Kontrollierte dotrierung von Al:ZnO-Schichten durch PLD mit zwei lasern und zwei targets

Κομπίτσας, Μιχάλης; Giannoudakos, A.; György, E.; Mihailescu, I.N.; Santiso, J.; Pantelica, D.

Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: https://hdl.handle.net/10442/7505

Export to: BibTeX | EndNote | RIS

Εξειδίκευση τύπου :	Άρθρο σε επιστημονικό περιοδικό
Τίτλος:	Kontrollierte dotrierung von Al:ZnO-Schichten durch PLD mit zwei lasern und zwei targets
Δημιουργός/Συγγραφέας:	[EL] Κομπίτσας, Μιχάλης[EN] Kompitsas, Michael G. Giannoudakos, A. György, E. Mihailescu, I.N. Santiso, J. Pantelica, D.
Ημερομηνία:	2005-02-02
Γλώσσα:	Γερμανικά
Τίτλος πηγής δημοσίευσης:	Photonic
Τόμος/Κεφάλαιο:	2
Σελίδες:	58-61
Θεματική Κατηγορία:	[EL] Φυσική και θεωρητική χημεία[EN] Physical and theoretical chemistry
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων:	© The Authors/Creators
Σημειώσεις:	Ερευνητικη ομάδα ΕΙΕ: Laser-based Techniques and Applications
Εμφανίζεται στις συλλογές:	Ινστιτούτο Θεωρητικής και Φυσικής Χημείας (ΙΘΦΧ) - Επιστημονικό έργο

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο:

Αρχείο	Περιγραφή	Σελίδες	Μέγεθος	Μορφότυπος	Έκδοση	Άδεια
Kompitsas Photonik_y2005_no02_p58.pdf			499.64 kB	Adobe PDF	Δημοσιευμένη/του Εκδότη	-	Δείτε/ανοίξτε